La Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), es una técnica extremadamente sensible, que permite obtener la imagen
superficial de los materiales y/o
caracterizar sus propiedades físicas, a la escala atómica, mediante la detección
de la fuerza originada entre la superficie y una nanopunta controlada con
precisión. Sin embargo, el AFM convencional sólo proporciona la componente
normal a la superficie de la fuerza (la dirección Z) e ignora los componentes
paralelos a la superficie (las direcciones X e Y). Para caracterizar completamente
los materiales utilizados en dispositivos a nanoescala, es necesario obtener
información acerca de las propiedades electrónicas, magnéticas, y elásticas, no
sólo la dirección Z, también es deseable medir estos parámetros en la
direcciones X e Y paralelas a la superficie del material. La medición en las
tres direcciones en la escala atómica aumenta nuestra comprensión de la
composición química y de las reacciones, la morfología de la superficie, la
manipulación molecular, y la operación de nanomáquinas. Un equipo de investigación en la
Universidad de Osaka desarrolló el método denominado "Bimodal
AFM" para obtener información sobre las superficies de los materiales en X, Y, y Z (es decir, en tres dimensiones). Los investigadores midieron
la fuerza total en 3D, entre una punta de AFM y la superficie de germanio (Ge). En su técnica, la punta controlada con precisión de un
brazo mecánico, se mueve sobre la superficie de material a dos frecuencias
diferentes para proporcionar información en ambas direcciones: vertical y
paralela. La historia y crecimiento de la nanotecnología está fuertemente
emparentada con la capacidad de “observar a nivel nano” mediante el desarrollo
de microscopios específicos. Esta variante de la microspopía AFM expandirá la comprensión de la estructura y
propiedades físicas de las superficies de los materiales a escala subatómica.
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