sábado, 13 de mayo de 2017

Microscopio de fuerza atómica 3D.

La Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), es una técnica extremadamente sensible, que permite obtener la imagen superficial de los materiales y/o caracterizar sus propiedades físicas, a la escala atómica, mediante la detección de la fuerza originada entre la superficie y una nanopunta controlada con precisión. Sin embargo, el AFM convencional sólo proporciona la componente normal a la superficie de la fuerza (la dirección Z) e ignora los componentes paralelos a la superficie (las direcciones X e Y). Para caracterizar completamente los materiales utilizados en dispositivos a nanoescala, es necesario obtener información acerca de las propiedades electrónicas, magnéticas, y elásticas, no sólo la dirección Z, también es deseable medir estos parámetros en la direcciones X e Y paralelas a la superficie del material. La medición en las tres direcciones en la escala atómica aumenta nuestra comprensión de la composición química y de las reacciones, la morfología de la superficie, la manipulación molecular, y la operación de nanomáquinas. Un equipo de investigación en la Universidad de Osaka desarrolló el método denominado "Bimodal AFM" para obtener información sobre las superficies de los materiales en X, Y, y Z (es decir, en tres dimensiones). Los investigadores midieron la fuerza total en 3D, entre una punta de AFM y la superficie de germanio (Ge). En su técnica, la punta controlada con precisión de un brazo mecánico, se mueve sobre la superficie de material a dos frecuencias diferentes para proporcionar información en ambas direcciones: vertical y paralela. La historia y crecimiento de la nanotecnología está fuertemente emparentada con la capacidad de “observar a nivel nano” mediante el desarrollo de microscopios específicos.  Esta variante de la microspopía AFM  expandirá la comprensión de la estructura y propiedades físicas de las superficies de los materiales a escala subatómica.


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